看完这些就知道HAST老化试验箱的实验过程及相关规范了
HAST老化试验箱是在非饱和湿度(65%～100%RH可调)、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。
一般用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等，若待测品是半导体，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，
为了取得更多样品在HAST老化试验箱实验中的信息，HAST实验中各种应力实验通常选用的先后次序准则：先实验破坏性比较弱的应力类型，然后再实验破坏性比较强的应力。
所以HAST实验的通常次序为：低温>高温>疾速温变循环>振荡>温度与振荡归纳应力。在时行实验前，须预备相应的实验夹具。
实验中在每个温度点的坚持时刻通常为10分钟。实验夹具的规划在HALT规划开端前，有必要规划一个特别、的夹具。这个夹具有必要满意以下两个请求：
1、适用于振荡和温度实验;
2、能供给适宜的振荡传输率、热均匀性和均衡的温度改变率。
那么上面我们说了HAST老化试验箱的实验过程，下面我们再来了解一下对该试验箱的规范要求又有哪些吧。
1、T内胆采用圆弧设计，复合安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果;
2、备双层不锈钢产品架，也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制产品架;
3、准配备8条试验样品信号施加端子，也可以根据需要增加端子数量，多具备55条偏压端子;
4、备特制的试样架免去繁杂的接线作业;
