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pct高温加速老化试验箱

简要描述:欧可pct高温加速老化试验箱可测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2020-12-15
  • 访  问  量:178
详情介绍

  pct高温加速老化试验箱可测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

  高温加速老化试验箱技术优势:

  1、采用全自动补充水位之功能,试验不中断、

  2、试验过程的温度、湿度、压力,是读取相关传感器的读值来显示的,而不是通过温湿度的饱和蒸汽

  压表计算出来的,能够掌握实际的试验过程。

  3、干燥设计,试验终止采用电热干燥设计确保测试区(待测品)的干燥,确保稳定性。

  4、压力/温度对照显示,完全符合温湿度压力对照表要求。

  高温加速老化试验箱性能:

  1、测试环境条件4、2、测试方法环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、

  2、温度范围105℃→+132℃、(控制点)

  3、温度波动度±0、5℃、

  4、温度偏差±2、0℃、

  5、湿度范围75%~100%R、H、(控制点)

  6、湿度波动度±2、5%R、H、

  7、湿度均匀度±5、0%、

  8、压力范围0、5~2㎏/㎝2(0、05~0、196MPa)(控制点)

  9、升温时间常温→+132℃35min、

  10、升压时间常压→+2㎏/㎝240min

  高温加速老化试验箱试样限制本试验设备禁止:

  易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存。腐蚀性物质试样的试验或储存。强电磁发射源试样的试验或储存。

  pct高温加速老化试验箱用途:壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性。

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