光纤pct老化试验箱

　　光纤pct老化试验箱产品满足标准

　　1、GB/T10586-1989湿热试验室技术条件;

　　2、GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验;

　　3、MIL-STD810D方法502.2;

　　4、GJB150.9-8温湿试验;

　　5、GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验;

　　pct老化试验箱特性：

　　1、试验过程自动运转至完成结束、使用简便。

　　2、双重过热保护装置，当锅内温度过高时，机器鸣叫警报并自动切断加热电源。

　　3、LED数字型温度控制器可作试验温度之设定、控制及显示，PID控制误差±0.1℃。

　　4、LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验*。

　　5、压力、温度对照显示。

　　6、运转时流水器自动排出未饱和蒸汽以达到蒸汽质量。

　　7、试验过程中水位不足时能自动补充水位之功能，试验不中断，确保使用。

　　8、锅内装置，锅门若未关紧则机器无法启动。

　　9、阀，当锅内压力超过工作值自动排气泄压。

　　10、门盖保护，ABS材质制成可防止操作人员接触烫伤。

　　光纤pct老化试验箱产品用途：

　　pct老化试验箱又称为高压加速老化试验箱，适用于国防、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。pct老化试验箱的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间.