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光纤pct老化试验箱

简要描述:光纤pct老化试验箱产品用途:
pct老化试验箱又称为高压加速老化试验箱,适用于国防、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2020-12-15
  • 访  问  量:73
详情介绍

  光纤pct老化试验箱产品满足标准

  1、GB/T10586-1989湿热试验室技术条件;

  2、GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验;

  3、MIL-STD810D方法502.2;

  4、GJB150.9-8温湿试验;

  5、GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验;

  pct老化试验箱特性:

  1、试验过程自动运转至完成结束、使用简便。

  2、双重过热保护装置,当锅内温度过高时,机器鸣叫警报并自动切断加热电源。

  3、LED数字型温度控制器可作试验温度之设定、控制及显示,PID控制误差±0.1℃。

  4、LED数字型定时器,当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。

  5、压力、温度对照显示。

  6、运转时流水器自动排出未饱和蒸汽以达到蒸汽质量。

  7、试验过程中水位不足时能自动补充水位之功能,试验不中断,确保使用。

  8、锅内装置,锅门若未关紧则机器无法启动。

  9、阀,当锅内压力超过工作值自动排气泄压。

  10、门盖保护,ABS材质制成可防止操作人员接触烫伤。

  光纤pct老化试验箱产品用途:

  pct老化试验箱又称为高压加速老化试验箱,适用于国防、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性。测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。pct老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间.

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