Product Center

产品中心

当前位置:首页  >  产品中心  >  PCT/HAST高压老化试验箱  >  高温高压蒸煮仪  >  高压蒸煮实验

高压蒸煮实验
简要描述:

高压蒸煮实验适用于各电子连接器、电镀産品、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、被动元件及电子零组件金属接脚沾锡性试验前的氧化加速寿命试验,符合国标军规MTL-STP-208F,202。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-05-09
  • 访  问  量:1008

详细介绍

品牌欧可仪器产地类别国产
应用领域电子,航天,汽车,电气

  高压蒸煮实验应用:

  ★元件的人工老化只有在一个非常狭窄的温度范围内发生,特别在93C,±3C蒸汽温度。GAH蒸汽老化机系列是当前市场满足该要求的。对于元件生产商和消费者-军用,商用,工业用,GAH凭借其精密的全程参数控制功能,成为您的选择。

  ★同时当前也有许多不同的产品类型或检测设备,用户只需将定时器到实际检测的持续时间。每个型号的设计,满足不同的高低要求。每个构造都有其各自的特殊选件。用户可根据您的不同要求,选择适合的一款系统。 高温蒸煮仪技术参数:

  ◎外部尺寸:W60×H50×D45cm

  ◎内部尺寸:W50×H20×D35cm

  ◎升温时间:大约45分钟。

  ◎蒸汽温度:upto97℃

  ◎计时功能:9999分钟。

  ◎重量:30KG

  ◎电压电流:AC220V8A/2.2KW/10A

  产品用途:

  本设备适用于各电子连接器、电镀産品、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、被动元件及电子零组件金属接脚沾锡性试验前的氧化加速寿命试验,符合国标军规MTL-STP-208F,202。

  高压蒸煮实验特性

  ◎内外箱采用SUS#304不锈钢板;

  ◎PID+PWM+SSR温控系统,双重超温保护,安全可靠;

  ◎型热电偶感知器与温度可控制解析能力0.1;

  ◎蒸汽试戏验目标设定控制/蒸汽试验运转计时时间设定控制;

  ◎可扩充预约开机时间控制装置/纯水RO塑渗透自荐动供水装置。

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
0769-83820906
欢迎您的咨询
我们将竭尽全力为您用心服务
604686895
扫码加微信
版权所有 © 2025 广东欧可检测仪器有限公司  备案号:粤ICP备14036005号

TEL:18925594996

扫码加微信