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详细解析PCT高压老化试验箱的用途、规范以及结构特点

 发布时间:2022-02-22 点击量:294
  详细解析PCT高压老化试验箱的用途、规范以及结构特点
  PCT高压老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。
  用途:
  设备目前适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验。
  规范要求:
  PCT高压老化试验箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
  配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。
  PCT高压老化试验箱的结构特点:
  1、采用进口耐高温电磁阀双路结构,在较大程度上降低了使用故障率;
  2、独立蒸汽发生室,避免蒸汽直接冲击产品,以免造成产品局部破坏;
  3、门锁省力结构,解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点;
  4、试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性;
  5、超长效实验运转时间,长时间实验机台运转1000小时;
  6、水位保护,透过试验室内水位Sensor检知保护;
  7、二段式压力安全保护装置,采两段式结合控制器与机械式压力保护装置;
  8、安全保护排压钮,警急安全装置二段式自动排压钮。