集成电路PCT老化试验箱用途：广泛应用于线路板，多层线路板，IC，LCD，磁铁等产品之密封性能的检测，测试其制品的耐厌性，气密性。确保质量是艾思荔生存的前提和发展的保证。

　　集成电路PCT老化试验箱 採用耐高温电磁阀双路结构，在大程度上降低了使用故障率，蒸汽发生室，避免蒸汽直接衝击产品，以免造成产品局部破坏。门锁省力结构，解决一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

　　PCT老化试验箱技术参数：

　　1、型号：OK-PCT-25内箱Φ25×40㎝

　　2、型号：OK-PCT-30内箱Φ30×50㎝

　　3、型号：OK-PCT-40内箱Φ40×60㎝

　　4、型号：OK-PCT-50内箱Φ50×70㎝

　　5、温度范围：100℃～132℃

　　6、湿度范围：100%RH饱和蒸汽

　　7、压力范围：大气压+0～4㎏/cm2

　　集成电路PCT老化试验箱特性：

　　1、试验过程自动运转至完成结束、使用简便。

　　2、双重过热保护装置，当锅内温度过高时，机器鸣叫警报并自动切断加热电源。

　　3、LED数字型温度控制器可作准确试验温度之设定、控制及显示，PID控制误差±0.1℃。

　　4、LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验*。

　　5、准确的压力、温度对照显示。

　　6、运转时流水器自动排出未饱和蒸汽以达到佳蒸汽质量。

　　7、试验过程中水位不足时能自动补充水位之功能，试验不中断，确保使用安全。

　　8、锅内安全装置，锅门若未关紧则机器无法启动。

　　9、安全阀，当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。

　　10、门盖保护，ABS材质制成可防止操作人员接触烫伤。

　　11、一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。