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芯片PCT老化试验箱

简要描述:芯片PCT老化试验箱广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐厌性,气密性。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2020-12-15
  • 访  问  量:175
详情介绍

  芯片PCT老化试验箱材质:

  1.试验箱尺寸:PCT-45(∮400mmxL600mm)圆型试验箱

  2.全机外尺寸:900x700x1600mm(W*D*H)立式

  3.内桶材质:不锈钢板材质(SUS#3163mm)

  4.外桶材质:不锈钢板材质或选喷塑

  5.保温材质:岩棉及硬质polyurethane发泡保温

  6.蒸汽发室加热管:钛管加热,不生锈。

  芯片PCT老化试验箱控制系统:

  1.采用台制台达彩色触控式PLC控制湿度和蒸汽温度(采用PT-100白金感温体).

  2.采用指针显示压力表.

  3.微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度和蒸汽湿度.

  4.手动入水阀(自动补水功能,可不停机连续试验).

  PCT老化试验箱满足标准

  1.GB/T10586-1989湿热试验室技术条件;

  2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验;

  3.MIL-STD810D方法502.2;

  4.GJB150.9-8温湿试验;

  5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验;

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