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半导体加速度离心实验机

简要描述:半导体加速度离心实验机用于确定电子元器件、小型设备和其他电工电子产品经受动态过载环境所产生的力(重力除外)作用下,结构的适应性和性能是否良好,

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-05-10
  • 访  问  量:947
详情介绍

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半导体加速度离心实验机简述:

本设备用于确定电子元器件、小型设备和其他电工电子产品经受动态过载环境所产生的力(重力除外)作用下,结构的适应性和性能是否良好,以及评定一些元器件的结构完好性,并验证这些元件在预期的使用环境下经受复合加速度应力是否正常以及结构的承受能力。

半导体加速度离心实验机特点:

◆ 计算机实时控制,自动生成实验报告;

◆ 实时显示试验曲线及容差、试验时间;

◆ 可实现多阶加速度试验;

◆ 可实现开路、超限、超速保护;

◆ 可实现自动、手动控制;

◆ 集流滑环电流通道数及大小可满足任一实验要求。

离心试验机规格:


           
型号

           
LXJ-容量

           
大负载

           
3

           
5

           
10

           
20

           
0.05

           
0.04

           
工位数

           
4~6

           
4

           
4~10

           
加速度m/s2

           
30-2000

           
30-2000

           
50-1000

           
50-1000

           
1000-200000

           
5000-400000

           
试品允许高度mm

           
200

           
300

           
试品试验方向

           
X,Y,Z三个方向分别进行

           
试品中心在装盘上计算安装半径mm

           
200

           
500

           
500

           
100

           
启动时间min

           
≤3

           
≤4

           
≤3

           
≤4

           
≤5

           
连续工作时间min

           
60

           
30

           
5

           
电源及消耗功率

           
AC 380V 1.5KVA

           
AC 380V 5KVA

           
AC 380V

           
4KVA

           
AC 380V 6.5KVA

           
外形尺寸mm

           
924×910×1242

           
1953×470×993

           
960×960×1200

           
接电装置

           
15环 500V 5A



           
重量kg

           
1500

           
1700

           
2300

           
1000

           
1500

           
控制系统

           
工控机控制

           
满足标准

           
GJB150 GJB360 GIB548 GB/T2423 MIL-STD-202F MIL-STD-810F MIL-STD-883C IEC68-2-27

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